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AE-Ⅰ声发射检测(一级)
复习题(一)
复习题(一)
题量:46题
题型:单选题, 多选题
试卷简介: 复习题(一), 此试卷为参加"AE-Ⅰ声发射检测(一级)"的考生提供的"复习题(一)"的答案和解析。
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试题预览
1
单选题
1分
1.声发射波的频率范围是( )
A.
100KHz~300KHz;
B.
20 KHz~1MHz ;
C.
20Hz~20KHz ;
D.
数Hz~数MHz 。
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2
单选题
1分
2.声发射检测的主要目标是 ( )
A.
确定声发射源的部位,分析声发射源的性质。
B.
确定声发射发生的时间或载荷,评定声发射源的严重性。
C.
给出声发射源的量化结果,替代传统的无损检测方法。
D.
A和
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3
单选题
1分
3.由于声发射的( ),因此,每次检测过程的信号获取是非常宝贵的,不可因人为疏忽而造成宝贵数据的丢失。
A.
可逆性,实验过程的声发射信号可能通过多次加载重复获得;
B.
可逆性,实验过程的声发射信号不可能通过多次加载重复获得;
C.
不可逆性,实验过程的声发射信号不可能通过多次加载重复获得;
D.
不可逆性,实验过程的声发射信号可能通过多次加载重复获得。
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4
单选题
1分
4.声发射特性对材料( ),因而,对数据的正确解释要有更为丰富的数据库和现场检测经验。
A.
不太敏感,又易受到机电噪声的干扰;
B.
甚为敏感,不易受到机电噪声的干扰;
C.
不太敏感,不易受到机电噪声的干扰;
D.
甚为敏感,又易受到机电噪声的干扰。
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5
单选题
1分
5.下列叙述中有正确的是( )
A.
声发射技术是一种新的无损检测手段,可以部分替代传统的检测方法。
B.
声发射技术不是替代传统的方法,而是一种新的补充手段。
C.
声发射检测技术不适于检测形状复杂构件。
D.
声发射检测不可以提供缺陷随外变量而变化的信息。
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