4.11 测定缺陷自身高度的方法有哪几种？试说明每种方法的原理、特点和应用。

参考解析:
4.11答：1、表面波波高法 表面波入射到上表面开口缺陷时，会产生一个反射回波，其波高与缺陷深度有关，当缺陷深度较小时，波高随缺陷深度增加而升高，实际探测中，常加工一些具有不同深度的人工缺陷试块，利用试块比较法来确定缺陷的深度。 这种方法只适用于测试深度较小的 表面开口缺陷，当缺陷深度超过两倍波长时，测试误差大。 2、 表面波延时法 仪器按表面波声程1：n调节比例，利用表面波在缺陷开口处和尖端处会产生两个反射波来确定缺陷的深度，以及利用表面波在无缺陷和有缺陷度表面波绕过而产生的时间差出现的波的不同位置来确定缺陷深度的方法，有单探头和双探头法两种，适用于表面开口缺陷。缺陷表面过于粗糙，缺陷中充满油或水时误差较大。 3、 端部回波峰值法 当声波主声束轴线入射到缺陷上下端点时，会产生强回波F1、F2，据上、下端点的声程和探头的K值可求的缺陷自身高度 h=(x2-x1)? 同样，利用探头在两点的距离也求得h=a/k。 横波端部回波法是目前应用比较广泛的一种方法，其测试误差与K值有关，采用点聚焦探头来测试，精度可明显提高。 4、 横波端角反射法 横波入射到下表面开口缺陷时产生端角反射回波，其回波高度与缺陷高度h同波长之比h/λ有关，因此实测中常用对比试块来测定缺陷的深度。 5、 横波串列式双探头法 对于表面光洁且垂直于探测面的缺陷，单探头接收不到缺陷反射波，需用两个同K值的斜探头进行串列式探测来确定缺陷的高度，两个探头作一收一发，当工件中无缺陷时，接收探头接收不到回波。当工件中存在缺陷时，发射探头发出的波从缺陷反射到底面，再从底面反射至接收探头，在示波屏上产生一个回波，该回波位置固定不动，而探头前后平行扫查，确定声束轴线入射到缺陷上下端点时的位置，根据探头位置的距离和K值，求得缺陷深度，此方法适用于测试表面未开口缺陷高度。 6、 相对灵敏度10dB法 先用一次波找到缺陷最高回波，前后移动探头，确定缺陷回波下降10dB时探头的位置，根据两次位置的声程和K值求得缺陷的高度， h=x2cosβ2- x1cosβ1 相对灵敏度法也可采用6dB，20dB 法测定，方法同10dB法。 7、 散射波法（衍射法） 将两个K值相同的斜探头置于缺陷两侧，作一收一发，发射探头发出的波在缺陷端部产生散射衍射，被接收探头接收，平行对称移动探头找到最高回波，这时缺陷深度h为： 这种方法适用于检测高度≥3mm的表面开口缺陷。