单选题
1分
一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。
参考答案: B
参考解析: [解析] “寿命试验”是指进行破坏性试验后无法实现对该样品进行重复检验,而且一般都丧失了原有的使用价值。通常,这一类型试验基本都属于破坏性检验。